OBLF Veos直讀光譜儀優(yōu)勢(shì)在哪里
點(diǎn)擊次數(shù)：2003 更新時(shí)間：2018-08-13
OBLF Veos直讀光譜儀的優(yōu)勢(shì)：
1、專為直讀光譜儀研發(fā)制造的半導(dǎo)體光敏檢測(cè)器，其感光能力比常規(guī)檢測(cè)器高100倍以上，覆蓋全部檢測(cè)波長(zhǎng)范圍；
2、光學(xué)系統(tǒng)采用恒溫真空光室，光學(xué)及電子元器件置于真空保護(hù)中，可不受外界環(huán)境變化的影響，重現(xiàn)性及長(zhǎng)期穩(wěn)定性；
3、通用多基體分析系統(tǒng)分析通道無(wú)限制，用于固體金屬材料成分快速分析；
4、專為直讀光譜儀研發(fā)制造的半導(dǎo)體光敏檢測(cè)器，其感光能力比常規(guī)檢測(cè)器高100倍以上，覆蓋全部檢測(cè)波長(zhǎng)范圍；
5、開(kāi)放式激發(fā)臺(tái)，適合各種形狀和尺寸樣品分析；
6、真空泵的運(yùn)行時(shí)間小于全部工作時(shí)間的5%，工作環(huán)境安靜；
7、可以應(yīng)用于多基體，不受元素選線的限制；
8、在檢出線、分析精度、和穩(wěn)定性等方面性能優(yōu)異；
9、可以分析氮元素和碳元素（包括超低碳）；
10、能夠在灰塵較多的惡劣環(huán)境中使用。
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